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LECO 공정이 태양광 모듈 성능에 미치는 영향 테스트

LECO 공정이 태양광 모듈 성능에 미치는 영향 테스트
Apr 15, 2024

에 대한 수요로는 재생 에너지 태양광 모듈 발전은 지속적으로 증가함에 따라 중요한 에너지 변환 기술로서 효율성과 비용 측면에서 많은 주목을 받고 있습니다. 태양전지 제조분야에서는, LECO(레이저 강화 접촉 최적화) 기술 점차 등장하고 있습니다.GT 솔라의 환경적으로 유발되는 노화 솔루션 제조업체에게 더 나은 지원과 보증을 제공하여 제품 개발 및 품질 관리에서 중요한 역할을 합니다. 이 글에서 소개할 신뢰성과 내구성 ~의 광전지 모듈 LECO 처리된 광전지로 제조되었습니다.

LECO 처리 모듈의 안정성 테스트

 

LECO 프로세스 변환 효율을 향상시킬 수 있습니다 PERC 및 TOPCon 셀. LECO 처리 전지로 만든 태양광 모듈과 처리하지 않은 전지를 비교할 때 두 전지는 어떤 차이도 보이지 않았습니다. 가속 노화 및 부패 테스트. 그만큼 같은 훨씬 초과된 테스트에서 결론이 발견되었습니다. 열주기, 습열 및 습도 동결 테스트 에 의해 요구됨 IEC.

통해 수집된 광범위한 데이터 일년 내내 실내 및 실외 확장된 가속 노화 테스트 안정성을 확인하기 위해 LECO 처리 PV 모듈. 테스트 방법 신뢰성과 내구성 태양광 모듈의 종류는 다음과 같습니다.

- 확장된 열주기 테스트 (TC) > 600회;

- 습열 테스트 (DH) > 2000시간;

- 다음을 포함한 복합 스트레스 테스트 습열 시험, UV 노화, 열주기, 고주파 습도 및 동결 시험.

 

열주기 테스트

 

열주기 테스트 결과는 태양광 모듈이 LECO로 치료 가지다 비슷한 안정성 치료받지 못한 사람들에게. 모듈 1이 보여줌 심각한 저하 초기 BO-CID 테스트(아래 사진)에서는 1회에 걸쳐 점차 성능이 회복되었습니다. 50 주기로 인해 전류 주입.

 

 

확장된 열주기 테스트에서 LECO 처리 부품의 STC 전력 감쇠 다이어그램

 

모든 테스트 모듈은 비슷한 성능 저하 경향을 가집니다. 표준 200사이클, 저하 추세는 1%에서 2.5% 사이이며 이는 합리적인 범위 내에 있습니다. 이후 800사이클 확장 (4x IEC) 처리되지 않은 모듈과의 편차는 없었으며 전력 강하는 테스트 기간에 비해 4~6%로 양호했습니다.

 

습열 테스트

 

1000시간 후 확장된 습열 테스트, 테스트 모듈의 성능이 저하되었습니다. 3%~4.5%, 6%의 전력 손실을 보인 모듈 2를 제외하고(아래 그림), 그 예에서는 더 높은 전력 손실을 나타냈습니다. 초기 성능 저하, 그럴 가능성이 높다 저하의 일부 에 의해 복원될 수 있습니다. 가벼운 침수 또는 암전류 주입. 3,000시간 후 습열 테스트, 감쇠는 대부분 사이 8%와 10%.

 

확장된 습열 테스트 중 LECO 처리 모듈의 STC 전력 감쇠 다이어그램

 

 

EL 이미지 (아래 그림 참조) 2300시간 이후 게이트 라인 부근에서 누설이 발생하였고, 부식으로 인해 단락 전류가 감소하고 Fill Factor가 감소한 것을 알 수 있습니다. (FF).

 

확장된 습열 테스트에서 부분 EL 이미징

 

습도 동결 테스트

 

모듈 전원의 빠른 회복 연속성 테스트 추가로 그럴 가능성이 있음을 증명합니다. BO-CID 결함. 아래 그림의 테스트에서는 테스트 모듈 1과 4가 거의 동일한 동작을 보이나, 10세트에서 상대적으로 큰 하락폭을 보이고 있습니다. 습도 동결 테스트, 모듈 5는 약간 다릅니다. 10세트의 습식 동결 테스트에서 재생 단계는 모든 샘플에 대해 상당한 성능 회복을 보여주었습니다.

 

 

확장된 습열 테스트 중 LECO 처리 모듈의 STC 전력 감쇠 다이어그램

 

복구 후 대부분의 테스트 모듈의 전력 손실은 2.5%~4.5%이며 이는 다른 테스트 모듈의 결과와 비슷합니다. IV 곡선은 다음의 전력 감소를 보여줍니다. 습도 동결 테스트 의 감소로 인해 발생합니다. 단락 전류 그리고 개방 회로 전압, 이는 복구 단계에서 부분적으로 재생성될 수 있습니다.

 

결과 온도주기 테스트 사이에 큰 차이가 없음을 보여줍니다. LECO 처리 모듈 그리고 처리되지 않은 모듈은 장기 습열 및 연속성 테스트, 그러나 상당한 성능 변화가 있습니다. 근본 원인은 개방 회로 전압과 단락 회로 전압의 변화입니다.

 

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